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On suppose qu'on utilise un détecteur en continu en sortie de séparation
chromatographique. On suppose que le détecteur fournit à chaque instant un signal mesuré M
qui est proportionnel à la concentration de l'espèce moléculaire X détecté selon
un coefficient de réponse rx.
C'est à dire qu'on suppose qu'à chaque instant [X] = rx * M
(où [X] = concentration en X éluant à l'instant t et mesurée le détecteur).
Les détections par mesure d'absorbance, conductimétrie, fluorimétrie ... pour l'HPLC
sont de ce type.
Les détecteurs catharomètres, à ionisation de flamme ... pour la CPG sont de ce type.
Il s'agit de montrer que dans ces conditions la surface du pic d'élution de X (Sx) est proportionnelle à la quantité de matière totale X (nx) qui a été éluée dans le pic. on suppose que X est parfaitement isolé à l'élution.
La figure à droite va être utilisée pour la démonstration : On a les relations : |
|
Si on fait tendre δt vers zéro, on peut utiliser une écriture différentielle et une relation d'égalité vraie, à savoir :
dnx = rx * M * D * dt (1) | |
Soit nx
la quantité totale de X éluée dans le pic donc entre les temps
ti et tf, on a
nx =
∫
ti à tf
dnx nx = ∫ ti à tf rx * M * D * dt Soit : nx = rx * D * ∫ ti à tf M * dt (2) Soit, puisque ∫ ti à tf M * dt n'est autre que la surface (Sx)du pic d'élution de X : nx est proportionnel à Sx (cqfd) Le facteur de proportionalité (en fait rx * D ) est déterminé expérimentalement lors des étalonnages. |
Page (surface pic de X) = k * (qté de X) - JF Perrin - jef.perrin.free.fr - novembre 2002